证券之星消息，根据天眼查APP数据显示胜科纳米（688757）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“X射线无损分析装置”，专利申请号为CN202422226967.3，授权日为2025年7月4日。
专利摘要：本实用新型涉及半导体晶圆检测技术领域，尤其涉及一种X射线无损分析装置。该X射线无损分析装置包括壳体、载物台、架体、探测器和激光打标器。其中，载物台位于壳体内，且载物台与壳体的底部滑动连接；载物台被配置为放置样品。架体位于壳体内。探测器与架体滑动连接，探测器架设于载物台的正上方，探测器被配置为检测样品的内部结构。激光打标器设置在探测器的上方，且激光打标器与探测器同轴设置，激光打标器被配置为对样品的表面做镭射标记。该X射线无损分析装置能够提高研磨和制样的工作效率，省时省力，达到节约成本的目的。
今年以来胜科纳米新获得专利授权2个。结合公司2024年年报财务数据，2024年公司在研发方面投入了4580.41万元，同比增7.62%。
通过天眼查大数据分析，胜科纳米（苏州）股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目40次；财产线索方面有商标信息64条，专利信息95条，著作权信息3条；此外企业还拥有行政许可25个。
数据来源：天眼查APP
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